LICA United Technology Limited
Pika IR-L+是一款覆蓋近紅外光譜范圍(925-1700 nm)的線性掃描高光譜成像儀。該儀器精度高,重量輕??膳cResonon的臺式、野外和機載系統(tǒng)聯(lián)合使用、可借助軟件開發(fā)工具包獨立使用、也可集成到機器視覺系統(tǒng)中使用。
Pika IR-L+ 是一款線掃式高光譜成像儀,覆蓋近紅外光譜范圍 (925 – 1700 nm)。 高精度、輕便型紅外成像儀,非常適合需要高精度遙感數(shù)據(jù)的用戶。它可以與任何臺式、野外以及機載系統(tǒng)一起使用,并集成到機器視覺系統(tǒng)中。
特點
光譜范圍:925 – 1700 nm
空間通道數(shù):640
Bin 光譜通道數(shù):470
3.8 nm 光譜分辨率 (FWHM)
光譜范圍 (nm)
925 - 1700
470
1.7
210 x 68 x 63
10.8 V to 30.0 V
GigE
像元尺寸(μm)
15
1095
1.2 Me-
15?μm
InGaAs
工作溫度(非冷凝)
-20?to +50℃
+5 to +40℃
CS-mount
5°, 7°, 11°, 22°, 77°
[1] 925-1700 nm范圍的光譜通道數(shù)。Pika IR-L+提供的光譜通道總數(shù)為480,波段延伸超過光譜范圍的兩個邊緣。
[2] 該值在最小binning時獲得。SNR可以通過光譜和空間binning來增加。
樣品數(shù)據(jù)和高光譜分析軟件可在downloads.resonon.com免費下載。
C++軟件開發(fā)工具包可以直接控制高光譜成像儀。
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